1993年 ，Fischer和Pschunder發現在摻硼P型CZ－Si的電池在光照條件下 ，會發生效能衰退 ，其衰減為總效能的2-3%左右 ，並將定義為光致衰減現象（LID） 。LID衰減速度很快 ，在幾天內就能够達到飽和 ，其產生機造重要是矽资料內的硼氧(B-O)缺点對 。
2012 年 ，有國表钻研發現 ，PERC多晶矽太陽電池中除存在光致衰減(LID) 之表 ，還存在“熱輔助光誘導衰減”（Light elevatedTemperature Induce Degradation ，LeTID） ， LeTID 現象會隨著環境溫度的升高而加強 ，與傳統LID 現象的个性有所分歧 。
2017年 ，國際上一些钻研單位開展了進一步的钻研 ，一個比較沉要的發現是PERC 單晶矽太陽電池同樣也存在 LeTID 現象 。Q-Cell 公司在2017 年報路了其 PERC 單晶矽太陽電池的LeTID 結果 ，雖然該電池使用常規的 B-O 對穩定工藝可在 25 ℃時使電池的衰減趨於穩定 ，但是在 75 ℃時其光致衰減仍會明顯增长 。
LID與LeTID兩者區別：
中國可再生能源學會光伏專業委員會在《2018 年中國光伏技術發展報告》（5）對LID和LeTID的區別進行了總結 。具體如下：
LeTID功率衰減：
2019年9月 ，Fraunhofer 實驗室MatthiasPander團隊公開發表了《Prediction of potential power/field lossfrom LeTID susceptible modules》 ，論文對LeTID組件的功率衰減進行了詳細的钻研 ，如下圖為經過690h測試後的單晶PERC組件EL照片 ，組件內部的電池亮度均勻性變差 ，部门電池已經呈現机能衰減 。
在實驗室環境下 ，高溫度和強輻射會大大加快功率衰減 ，因而衰減速度與地理地位亲昵相關 。高溫通常定義在50℃以上 ，文中對LeTID敏感組件的測試地理環境分成3等級 ，中性moderate (一年環境溫度約1 % 的時段在 50 °C以上)、溫暖warm (一年環境溫度約5% 的時段在50 °C以上)和炎熱 hot (一年環境溫度約15% 的時段在 50 °C以上) 。
結果如圖所示 ，在炎熱地帶 ，年發電損失約達到5% ，當達到最大衰減以後 ，第7年以後組件在熱輔助的作用下開始功率恢復 ，但是恢復的程杜仔限 ，必要花費的時間也很長 ，如圖則必要10年以上 。在溫暖地區 ，第5年功率衰減達到4%左右 。在中性氣候地區 ，影響較幼 。
另表Friederike Kersten在論文《System performance loss due to LeTID》公開報導戶表測試結果 ，安裝場职位於賽普洛斯 ，氣候較為溫暖 ，使用多晶PERC電池組件 ，運行三年以後的最大衰減為7%左右 。
由於LeTID組件容易受環境溫杜装響 ，因而對於光伏電站建設 ，必要根據當地的氣候環境進行選型 ，對於炎熱地區 ，最好使器拥有第三方認證的抗LeTID組件 。
http://guangfu.bjx.com.cn/news/20191113/1020672.shtml 來源:坎德拉學院
